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CEM3000系列桌面型sem掃描電鏡體積小巧,可放置于普通實驗臺,對場地?zé)o特殊要求。4nm高清+40秒快檢,搭配鏡筒內(nèi)電子加減速和復(fù)合透鏡設(shè)計,低至1KV也能對電子束敏感樣品直接觀察。
CEM3000抗振防磁掃描電子顯微鏡確保高倍數(shù)下微觀特征(如60nm銀線、錫球焊接缺陷)清晰可辨,數(shù)據(jù)誤差率顯著降低,避免因成像模糊、數(shù)據(jù)失真導(dǎo)致的研發(fā)誤判、質(zhì)檢漏檢等問題。從實驗室到生產(chǎn)線、從車間現(xiàn)場到狹小空間(手套箱/車廂),無論環(huán)境振動、磁場干擾如何變化,均能穩(wěn)定輸出優(yōu)于4nm(SE模式)的高清成像。
中圖儀器CEM3000系列4nm高清快檢掃描電鏡“空間適配+高效精準(zhǔn)+定制適配”的高效檢測硬核基礎(chǔ),結(jié)合“全周期、快響應(yīng)、強專業(yè)”的售后服務(wù)體系,為采購、使用、維護提供全周期保障。
中圖儀器CEM3000系列掃描電鏡優(yōu)于4nm空間分辨率(SE模式),60nm銀線等微尺度特征清晰呈現(xiàn),最高20萬倍放大倍數(shù),覆蓋納米級觀測需求。用戶可在CEM3000系列60nm銀線微尺度觀測掃描電鏡上搭配不同的探頭,同時接收多種信號,對樣品進行分析。
CEM3000高效精準(zhǔn)掃描電鏡具有出色的電子光學(xué)系統(tǒng),優(yōu)于4nm的空間分辨率,保證了高放大倍數(shù)下的清晰成像,能夠滿足納米尺度的形貌觀測需求。通過加裝各類探頭和附件,滿足用戶的拓展性需求,這使其在材料科學(xué)、生命科學(xué)、納米技術(shù)、能源等多個領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。
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