60nm銀線微尺度觀測掃描電鏡

中圖儀器CEM3000系列掃描電鏡優(yōu)于4nm空間分辨率（SE模式），60nm銀線等微尺度特征清晰呈現(xiàn)，最高20萬倍放大倍數(shù)，覆蓋納米級觀測需求。用戶可在CEM3000系列60nm銀線微尺度觀測掃描電鏡上搭配不同的探頭，同時接收多種信號，對樣品進行分析。

一、雙機型定制適配

CEM3000A配備70mm×70mm大樣品倉，比肩立式電鏡，支持大尺寸/批量樣品分析；CEM3000B專攻振動環(huán)境，成像穩(wěn)定性拉滿。

二、應用案例

電鏡外型緊湊，空間適用性強，整機采用大量的抗干擾設計，避免使用環(huán)境造成的影響，拓寬了應用范圍。同時，該系列臺式電鏡具有非常豐富的自動調(diào)節(jié)功能，能夠對不同類型的樣品進行觀測，具有高空間分辨率。

三、核心優(yōu)勢

1.空間自由無束縛，多場景靈活部署

（1）桌面級緊湊設計，日常工作臺即可安放，無需專用實驗室，就近檢測省去樣品轉運麻煩。

（2）支持靈活移機，一臺設備覆蓋實驗室、生產(chǎn)線、手套箱、車廂等多場景，一臺多用，跨工位批量檢測更高效。

（3）全系列搭載抗振防磁技術，CEM3000B更配備復合抗振系統(tǒng)，車間振動、磁場干擾等復雜環(huán)境下仍穩(wěn)定輸出，無需額外改造場地。

2.高效省心降成本，檢測效率翻倍

（1）快速抽放氣技術，CEM3000B低真空抽氣僅40秒、高真空1.5分鐘，大幅縮短等待時間，提升檢測吞吐量。

（2）一鍵出片+全自動化操作，自動聚焦、自動消像散、自動圖像增強，普通員工無需專業(yè)培訓即可上手，降低人力成本。

（3）鎢燈絲電子槍穩(wěn)定性強、真空要求低，搭配免維護設計，減少設備停機維護頻率，保障研發(fā)/生產(chǎn)連續(xù)性。

3.精準強悍夠專業(yè)，滿足多元檢測需求

（1）優(yōu)于4nm空間分辨率（SE模式），60nm銀線等微尺度特征清晰呈現(xiàn)，最高20萬倍放大倍數(shù)，覆蓋納米級觀測需求。

（2）雙機型定制適配：CEM3000A配備70mm×70mm大樣品倉，比肩立式電鏡，支持大尺寸/批量樣品分析；CEM3000B專攻振動環(huán)境，成像穩(wěn)定性拉滿。

（3）全配置硬核加持：標配二次電子+四象限背散射探頭，可選配能譜儀、低真空系統(tǒng)，實現(xiàn)微觀形貌+元素分析雙重功能，一站式解決多類型樣品檢測。

（4）定制化軟件服務，支持顆粒度統(tǒng)計、孔隙率測量、三維粗糙度重建等專項功能，適配特定行業(yè)檢測需求。

4.全周期可靠保障，合作無憂

（1）合同生效后60個工作日內(nèi)交貨，免費快遞至指定地點，省心省力。

（2）專業(yè)團隊上門安裝調(diào)試，提供理論+實操+維修全流程培訓，確保人員快速上手。

（3）12個月質保期，非人為故障免費更換部件，質保期后成本價維修，2小時響應+72小時上門排故，全程保駕護航。

注：產(chǎn)品參數(shù)可能根據(jù)技術升級實時更新，具體以最新配置為準，詳情可咨詢客服獲取完整資料。

CEM3000系列60nm銀線微尺度觀測掃描電鏡為客戶提供“省空間、省時間、省成本、高可靠"的全周期檢測解決方案。無論是研發(fā)升級、批量質檢還是現(xiàn)場檢測，都能精準匹配你的核心需求。