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簡(jiǎn)要描述:NS系列薄膜臺(tái)階儀品牌亞埃級(jí)精度、多場(chǎng)景適配性與智能化操作,可精準(zhǔn)測(cè)量臺(tái)階高度(納米至1050μm)、表面粗糙度(Ra、Rz等參數(shù))、膜層厚度及應(yīng)力分布,為材料研發(fā)、工藝優(yōu)化與質(zhì)量管控提供可靠數(shù)據(jù)支持。
產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
| 品牌 | 中圖儀器 | 產(chǎn)地 | 國(guó)產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 加工定制 | 否 |
中圖儀器NS系列薄膜臺(tái)階儀品牌亞埃級(jí)精度、多場(chǎng)景適配性與智能化操作,可精準(zhǔn)測(cè)量臺(tái)階高度(納米至1050μm)、表面粗糙度(Ra、Rz等參數(shù))、膜層厚度及應(yīng)力分布,為材料研發(fā)、工藝優(yōu)化與質(zhì)量管控提供可靠數(shù)據(jù)支持。

1、參數(shù)測(cè)量功能
(1)臺(tái)階高度:能夠測(cè)量納米到330μm或1050μm的臺(tái)階高度,可以準(zhǔn)確測(cè)量蝕刻、濺射、SIMS、沉積、旋涂、CMP等工藝期間沉積或去除的材料。
(2)粗糙度與波紋度:能夠測(cè)量樣品的粗糙度和波紋度,分析軟件通過(guò)計(jì)算掃描出的微觀輪廓曲線,可獲取粗糙度與波紋度相關(guān)的Ra、RMS、Rv、Rp、Rz等數(shù)十項(xiàng)參數(shù)。
(3)應(yīng)力測(cè)量:可測(cè)量多種材料的表面應(yīng)力。
2、測(cè)量模式與分析功能
(1)單區(qū)域測(cè)量模式:完成Focus后根據(jù)影像導(dǎo)航圖設(shè)置掃描起點(diǎn)和掃描長(zhǎng)度,即可開始測(cè)量。
(2)多區(qū)域測(cè)量模式:完成Focus后,根據(jù)影像導(dǎo)航圖完成單區(qū)域掃描路徑設(shè)置,可根據(jù)橫向和縱向距離來(lái)陣列形成若干到數(shù)十?dāng)?shù)百項(xiàng)掃描路徑所構(gòu)成的多區(qū)域測(cè)量模式,一鍵即可完成所有掃描路徑的自動(dòng)測(cè)量。
(3)3D測(cè)量模式:完成Focus后根據(jù)影像導(dǎo)航圖完成單區(qū)域掃描路徑設(shè)置,并可根據(jù)所需掃描的區(qū)域?qū)挾然驋呙杈€條的間距與數(shù)量完成整個(gè)掃描面區(qū)域的設(shè)置,一鍵即可自動(dòng)完成整個(gè)掃描面區(qū)域的掃描和3D圖像重建。
(4)SPC統(tǒng)計(jì)分析:支持對(duì)不同種類被測(cè)件進(jìn)行多種指標(biāo)參數(shù)的分析,針對(duì)批量樣品的測(cè)量數(shù)據(jù)提供SPC圖表以統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)的變化趨勢(shì)。
3、雙導(dǎo)航光學(xué)影像功能
在NS200-D型號(hào)中配備了正視或斜視的500W像素的彩色相機(jī),在正視導(dǎo)航影像系統(tǒng)中可精確設(shè)置掃描路徑,在斜視導(dǎo)航影像系統(tǒng)中可實(shí)時(shí)跟進(jìn)掃描軌跡。
4、快速換針功能
采用了磁吸式測(cè)針,當(dāng)需要執(zhí)行換針操作時(shí),可現(xiàn)場(chǎng)快速更換掃描測(cè)針,并根據(jù)軟件中的標(biāo)定模塊進(jìn)行快速標(biāo)定,確保換針后的精度和重復(fù)性,減少維護(hù)煩惱。

NS系列薄膜臺(tái)階儀品牌應(yīng)用場(chǎng)景適應(yīng)性強(qiáng),其對(duì)被測(cè)樣品的反射率特性、材料種類及硬度等均無(wú)特殊要求,能夠廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、太陽(yáng)能光伏、光學(xué)加工、LED、MEMS器件、微納材料制備等各行業(yè)領(lǐng)域內(nèi)的工業(yè)企業(yè)與高校院所等科研單位,其對(duì)表面微觀形貌參數(shù)的準(zhǔn)確表征,對(duì)于相關(guān)材料的評(píng)定、性能的分析與加工工藝的改善具有重要意義。
1、半導(dǎo)體制造:沉積/蝕刻薄膜厚度測(cè)量、CMP工藝平整度檢測(cè)、抗蝕劑臺(tái)階高度分析,助力芯片良率提升。
2、光伏&顯示面板:太陽(yáng)能涂層膜厚檢測(cè)、AMOLED屏微結(jié)構(gòu)分析、觸控面板銅跡線測(cè)量,適配光伏組件與顯示器件生產(chǎn)需求。
3、MEMS&微納材料:微型傳感器形貌表征、柔性電子薄膜厚度檢測(cè),支撐微納器件研發(fā)與量產(chǎn)質(zhì)控。
4、科研與高校:材料表面應(yīng)力分析、微加工工藝研發(fā)數(shù)據(jù)支撐,加速科研項(xiàng)目落地。

相對(duì)濕度:濕度 (無(wú)凝結(jié))30-40% RH
溫度:16-25℃ (每小時(shí)溫度變化小于2℃)
地面振動(dòng):6.35μm/s(1-100Hz)
音頻噪音:≤80dB
空氣層流:≤0.508 m/s(向下流動(dòng))
如需針對(duì)您的行業(yè)場(chǎng)景定制測(cè)量方案、獲取詳細(xì)參數(shù)或申請(qǐng)樣品測(cè)試,歡迎隨時(shí)聯(lián)系中圖儀器,我們將為您提供專業(yè)技術(shù)支持與咨詢服務(wù)!
(注:產(chǎn)品參數(shù)與功能可能隨技術(shù)升級(jí)更新,具體以實(shí)際溝通為準(zhǔn))
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