SuperView W1系列0.1nm分辨率白光干涉儀，以“超精密、全適配、高效率、低運維”的核心優勢，應用覆蓋半導體、3C電子等多行業場景，數據驅動檢測，賦能精密制造升級。如需獲取產品演示視頻、行業案例手冊或免費樣品測試。

?SuperView W1系列中圖儀器白光干涉儀設備以0.1nm級分辨率、8μm/s掃描速度、300+種標準參數，可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

SuperViewW白光干涉技術光學3D輪廓儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點，測量單個精細器件的過程用時短，確保了高款率檢測。

中圖儀器3D白光干涉儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點，測量單個精細器件的過程用時短，確保了高款率檢測。

SuperViewW白光干涉光學3D測量儀基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關鍵參數和尺寸。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。

SuperViewW超光滑表面白光干涉輪廓儀可對各種產品、部件和材料表面的粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進行測量和分析。