中圖儀器白光干涉3D表面輪廓儀

SuperViewW中圖儀器白光干涉3D表面輪廓儀兼具多場(chǎng)景適配性、高精度測(cè)量、智能化操作三大優(yōu)勢(shì)，能一站式解決超光滑/粗糙材質(zhì)、納米/微米級(jí)精度、批量檢測(cè)效率低等測(cè)量難題。

一、產(chǎn)品核心功能

1. 測(cè)量能力：覆蓋全類(lèi)型樣件表面，無(wú)需切換測(cè)量模式，適配從精密器件到批量工件的多樣化檢測(cè)場(chǎng)景。

2. 自動(dòng)化體驗(yàn)：操縱桿便捷操控所有軸位，支持陣列式多區(qū)域測(cè)量、Mark點(diǎn)自動(dòng)定位校正，批量樣品切換測(cè)量點(diǎn)位無(wú)需重復(fù)調(diào)試。

3. 數(shù)據(jù)處理與導(dǎo)出：內(nèi)置去噪、濾波等四大數(shù)據(jù)處理模塊，粗糙度、幾何輪廓等五大分析功能，支持Word/Excel/PDF格式報(bào)表導(dǎo)出，滿(mǎn)足質(zhì)檢存檔與數(shù)據(jù)分析需求。

4. 穩(wěn)定與安全保障：氣浮隔振底座隔絕振動(dòng)干擾，0.1nm分辨率環(huán)境噪聲評(píng)價(jià)功能確保數(shù)據(jù)精準(zhǔn)；雙重鏡頭防撞保護(hù)、光源自動(dòng)熄燈設(shè)計(jì)，降低設(shè)備損耗與操作風(fēng)險(xiǎn)。

二、產(chǎn)品核心亮點(diǎn)

1. 全場(chǎng)景覆蓋：?jiǎn)我粧呙枘Ｊ竭m配超光滑到粗糙、鏡面到全透明/黑色材質(zhì)，從納米到微米級(jí)工件的粗糙度、平整度、微觀(guān)輪廓等參數(shù)均可精準(zhǔn)測(cè)量，無(wú)需更換設(shè)備即可滿(mǎn)足多類(lèi)產(chǎn)品檢測(cè)需求。

2. 高精度+大范圍雙突破：復(fù)合型EPSI重建算法解決傳統(tǒng)技術(shù)瓶頸，自動(dòng)拼接功能支持方形、圓形等多種模式，數(shù)千張圖像無(wú)縫拼接，超光滑凹面弧形掃描也能實(shí)現(xiàn)無(wú)重疊縫隙重建。

3. 高效自動(dòng)化降本增效：一鍵完成單/多區(qū)域自動(dòng)測(cè)量、批量分析，編程測(cè)量功能可預(yù)設(shè)流程實(shí)現(xiàn)一鍵操作，單個(gè)精細(xì)器件測(cè)量用時(shí)短，大幅提升檢測(cè) throughput。

4.自研軟件平臺(tái)：Xtremevision Pro第二代3D測(cè)量軟件平臺(tái)適配多機(jī)型，拓展性更強(qiáng)。集成圖像掃描、3D分析、影像測(cè)量、自動(dòng)化測(cè)量四大模塊，適配中圖W/VT/WT系列所有3D儀器機(jī)型。支持白光干涉與共聚焦顯微鏡自動(dòng)切換，可直接測(cè)量微觀(guān)平面輪廓的距離、角度、半徑等參數(shù)，搭配靈活自動(dòng)拼接功能，自定義測(cè)量區(qū)域無(wú)限制。

三、應(yīng)用領(lǐng)域

中圖儀器白光干涉3D表面輪廓儀廣泛應(yīng)用于精密制造、電子半導(dǎo)體、汽車(chē)零部件、新材料、醫(yī)療器械等領(lǐng)域，對(duì)各種產(chǎn)品、部件和材料表面的粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺(tái)階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進(jìn)行測(cè)量和分析。

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